设备用途:

我司全新研发的超声波扫描显微镜（SAT），是一种利用水为传播媒介，利用合适频率的超声波，对各类材料和半导体器件进行无损检测的设备，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会影响样品性能，不会对样品造成损伤。


应用领域:

半导体电子行业：半导体晶圆片、封装器件、大功率器件IGBT、红外器件、光电传感器件、SMT贴片器件、MEMS、塑料封装IC、晶片、PCB、LED等;
材料行业：复合材料、镀膜、电镀、注塑、合金、超导材料、陶瓷、金属焊接、摩擦界面等； 
 
设备特点：

扫描模式齐全：
1.1 超声波传输时间测量（A扫描）
1.2  纵向截面成像（B扫描）
1.3 X/Y二维成像（C、D、G、X扫描）
1.4 三维扫描与成像
1.5 T扫描：检测透射信号

具备定量测分析功能，以图像方式直观显示被测件内部缺陷的位置、形状和大小，并进行缺陷的尺寸和面积统计，自动计算缺陷占所测量面积的百分比;

具备缺陷尺寸标识、厚度与测距等功能;

具备图像着色功能，根据灰度等级手动着色；可根据厚度变化，自动着色，可根据相位翻转自动着色；

频率范围：1~100MHz，可根据实际需要更换不同频率探头;

自主研发检测软件，可根据客户需求对功能进行持续升级。